고등기술연구원 시험분석센터에 신규 XRF(x선 형광분석기) 장비를 도입하였습니다. 

WD-XRF (Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence spectroscopy, 파장분산형 X선 형광분석기)

· 장비 : XRF (X선 형광분석기)

· 모델명 : ZSX PrimusIV (Rigaku社)

· 분석원소 : 4Be ~ 92U

· X-ray generator : 4kW (60kV, 150mA)

· 파장분산형 XRF는 시료에 X선을 조사하여, 시료로부터 발생하는 형광 스펙트럼을 분석하여 원소의 조성 및 함량을 분석하는 장비.

· 비파괴적 분석방법으로 고체, 분말등의 조성 및 함량을 빠르게 분석 가능.

· 응용분야 

   - 금속의 구성원소 및 함량

   - 미지시료의 구성원소 및 함량

   - 광물 및 광석의 구성원소 및 함량

XRF 분석을 희망하시는 분들께서는 관련 담당자에게 연락 혹은 시험분석센터 홈페이지에서 예약해주시면 되겠습니다. 

(시험분석센터 홈페이지 링크: 고등기술연구원 시험분석센터에 XRF(x선 형광분석기) 장비를 새로 도입하였습니다. > 공지사항 - 고등기술연구원 시험분석센터 (iae.re.kr))