Institute for Advanced Engineering
INSTITUTE FOR ADVANCED ENGINEERING
고등기술연구원 시험분석센터에 신규 XRF(x선 형광분석기) 장비를 도입하였습니다.
WD-XRF (Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence spectroscopy, 파장분산형 X선 형광분석기)
· 장비 : XRF (X선 형광분석기)
· 모델명 : ZSX PrimusIV (Rigaku社)
· 분석원소 : 4Be ~ 92U
· X-ray generator : 4kW (60kV, 150mA)
· 파장분산형 XRF는 시료에 X선을 조사하여, 시료로부터 발생하는 형광 스펙트럼을 분석하여 원소의 조성 및 함량을 분석하는 장비.
· 비파괴적 분석방법으로 고체, 분말등의 조성 및 함량을 빠르게 분석 가능.
· 응용분야
- 금속의 구성원소 및 함량
- 미지시료의 구성원소 및 함량
- 광물 및 광석의 구성원소 및 함량
XRF 분석을 희망하시는 분들께서는 관련 담당자에게 연락 혹은 시험분석센터 홈페이지에서 예약해주시면 되겠습니다.
(시험분석센터 홈페이지 링크: 고등기술연구원 시험분석센터에 XRF(x선 형광분석기) 장비를 새로 도입하였습니다. > 공지사항 - 고등기술연구원 시험분석센터 (iae.re.kr))